然而就在这时，沉飞桌上的内部电话响了。

    刚接通，就传来了李家辉着急的声音:

    “沉总，测试出了点问题！

    您最好过来看一下……”

    沉飞的脸上瞬间升起了一个着急表情，天星610究竟出现了什么问题。

    此刻，华星半导体实验室李家辉教授的脸上早就没有了最初庆祝时高兴的表情。

    代替的则是满脸疲惫的表情，现在他还盯着测试平台上不断跳动的数据，想要找到问题的根源！

    最初的几天，全都是好消息。

    基础功能测试全部通过，内核单元初始化正常，各内核也能达到缺省目标。。

    当时团队充满了乐观的情绪，甚至已经有人开始讨论庆功宴去哪家酒店。

    但伴随着一名负责可靠性测试的年轻工程师的惊呼，坏消息来了。

    在一种比较特殊且难以复现的负载场景下:芯片从极低频率瞬间跃升至最高频率，伴随着大量L2缓存访问操作的情况下。

    芯片的大核电压会出现一个极其短暂但却异常尖锐的毛刺，瞬间突破安全阈值，导致内核保护性宕机，整个系统随之重启。

    （查的资料，不确定是不是真的！看一下就好了）

    最重要的是这个问题出现的概率很低，可能测试几千次都没有任何问题。

    但可能又会毫无征兆的突然出现。

    为了复现这个bug，测试团队尝试了无数使用情况，都很难复现。

    就在沉飞来到实验室准备帮忙的时候，顾漫却跟了上来。

    拦住了他开口说道:“沉总，高通那边已经动手了。”

    说完又掏出手机，给沉飞看了一份刚刚收到，来自高通法律部门的通知函。

    写的倒是非常正式，附件里也罗列了几十项“可能侵犯的专利”。

    要求华星立刻就此进行真诚的谈判，否则将面临全球范围内的法律诉讼！

    看着略微担忧的顾漫，沉飞低声骂了一句:“专利流氓！”

    然后烦躁的揉了揉太阳穴。

    他知道这是商业竞争的常见手段，但偏偏芯片测试出现了问题，这无异于火上浇油。